Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441909305 - 2009. gada 16. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Rajesh Garg
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

Cena
€ 181,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 30. jūl. - . gada 13. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Rajesh Garg izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.

212 pages, 28 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2009. gada 16. novembris
ISBN13 9781441909305
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 212
Izmēri 159 × 238 × 24 mm   ·   508 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Rajesh Garg ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )