Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489985101 - 2014. gada 28. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Rajesh Garg
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

Cena
€ 110,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 28. jūl. - . gada 5. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Rajesh Garg izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.

212 pages, 28 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2014. gada 28. novembris
ISBN13 9781489985101
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 212
Izmēri 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Rajesh Garg ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )