Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402070761 - 2002. gada 30. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Thermal Testing of Integrated Circuits 2002 edition

Cena
€ 120,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 7. - 21. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem J. Altet izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.


204 pages, 102 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2002. gada 30. jūnijs
ISBN13 9781402070761
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 204
Izmēri 160 × 240 × 14 mm   ·   539 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja