Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952875 - 2011. gada 21. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

J. Altet
Thermal Testing of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 24. jūl. - . gada 3. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem J. Altet izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.

204 pages, 102 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2011. gada 21. septembris
ISBN13 9781441952875
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 204
Izmēri 155 × 235 × 12 mm   ·   322 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus J. Altet ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )