Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387258003 - 2005. gada 3. augusts
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011 edition


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem R.F. Egerton izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.


216 pages, 122 black & white illustrations, 5 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2005. gada 3. augusts
Oriģinālā izdošanas datums 2008
ISBN13 9780387258003
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 202
Izmēri 155 × 235 × 14 mm   ·   430 g
Valoda Angļu  

Vairāk no R.F. Egerton

Vairāk no tā paša izdevēja