Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - Grāmatas - Springer International Publishing AG - 9783319819860 - 2018. gada 30. maijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 edition

Cena
€ 61,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 25. sept. - . gada 5. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem R.F. Egerton izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.


196 pages, 15 Illustrations, color; 109 Illustrations, black and white; XI, 196 p. 124 illus., 15 il

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2018. gada 30. maijs
ISBN13 9783319819860
Izdevēji Springer International Publishing AG
Lapas 196
Izmēri 234 × 156 × 16 mm   ·   334 g
Valoda Vācu  

Vairāk no R.F. Egerton

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja