Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - Grāmatas - Springer International Publishing AG - 9783319398761 - 2016. gada 7. jūlijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 2nd ed. 2016 edition

Cena
€ 90,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 24. sept. - . gada 2. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem R.F. Egerton izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.


207 pages, 109 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2016. gada 7. jūlijs
ISBN13 9783319398761
Izdevēji Springer International Publishing AG
Lapas 196
Izmēri 165 × 243 × 22 mm   ·   471 g
Valoda Vācu  

Vairāk no R.F. Egerton

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja