Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience - Jian Min Zuo - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493966059 - 2016. gada 26. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience 1st ed. 2017 edition

Cena
€ 129,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 11. - 19. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Jian Min Zuo izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy.


755 pages, 92 black & white illustrations, 218 colour illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2016. gada 26. oktobris
ISBN13 9781493966059
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 729
Izmēri 155 × 235 × 44 mm   ·   1,42 kg
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Jian Min Zuo ( piem., Hardcover Book )