Bias Temperature Instability for Devices and Circuits - Tibor Grasser - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461479086 - 2013. gada 23. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Tibor Grasser
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits 2014 edition

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Tibor Grasser izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

864 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2013. gada 23. oktobris
ISBN13 9781461479086
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 810
Izmēri 158 × 241 × 50 mm   ·   1,50 kg
Valoda Angļu  
Redaktors Grasser, Tibor

Vairāk no Tibor Grasser

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Tibor Grasser ( piem., Hardcover Book )