Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Ruijing Shen - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461407874 - 2012. gada 18. marts
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Ruijing Shen
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs 2012 edition

Cena
€ 100,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 29. jūl. - . gada 6. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Ruijing Shen izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

336 pages, 61 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2012. gada 18. marts
ISBN13 9781461407874
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 306
Izmēri 155 × 235 × 19 mm   ·   644 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Ruijing Shen ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )