Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375616 - 2012. gada 12. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Angela Krstic
Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

Cena
€ 152,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 6. - 14. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Angela Krstic izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 12. oktobris
Oriģinālā izdošanas datums 1998
ISBN13 9781461375616
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 191
Izmēri 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Angela Krstic ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )