Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Lawrence C Wagner - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461372318 - 2012. gada 9. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1999 edition

Cena
€ 179,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 28. aug. - . gada 11. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Lawrence C Wagner izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.


255 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 9. novembris
ISBN13 9781461372318
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 255
Izmēri 155 × 235 × 14 mm   ·   385 g
Valoda Angļu  
Redaktors Wagner, Lawrence C.

Vairāk no tā paša izdevēja