Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Lawrence C Wagner - Grāmatas - Chapman and Hall - 9780412145612 - 1999. gada 31. janvāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1999 edition

Cena
€ 152,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 25. sept. - . gada 5. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Lawrence C Wagner izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.


255 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1999. gada 31. janvāris
ISBN13 9780412145612
Izdevēji Chapman and Hall
Lapas 255
Izmēri 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g
Valoda Angļu  
Redaktors Wagner, Lawrence C.

Vairāk no tā paša izdevēja