Neural Models and Algorithms for Digital Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - S.T. Chadradhar - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461367673 - 2012. gada 28. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

S.T. Chadradhar
Neural Models and Algorithms for Digital Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1991 edition

Cena
€ 120,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 7. - 21. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem S.T. Chadradhar izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 Notation and Tenninology . 3 Minimization Technique . 4 An Example . 1 Transitive Oosure . 3 Path Sensitization . 100 References . 1 Background . 6 Summary 119 References . 2 Contribution of the Present Work . 139 References . 3 Logic Circuit Modeling . 1 Modelfor a Boolean Gate .

197 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 28. septembris
ISBN13 9781461367673
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 184
Izmēri 155 × 235 × 11 mm   ·   290 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus S.T. Chadradhar ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )