Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Yusuf Leblebici - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461364290 - 2012. gada 27. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition

Cena
€ 202,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 26. okt. - . gada 3. nov.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Yusuf Leblebici izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

229 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 27. septembris
ISBN13 9781461364290
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 229
Izmēri 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja