Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Jose Pineda de Gyvez - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363835 - 2014. gada 23. februāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Jose Pineda de Gyvez
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 21. - 29. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Jose Pineda de Gyvez izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).

191 pages, 48 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2014. gada 23. februāris
ISBN13 9781461363835
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 167
Izmēri 155 × 235 × 11 mm   ·   281 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Jose Pineda de Gyvez