Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Jose Pineda de Gyvez - Grāmatas - Springer - 9780792393061 - 1992. gada 31. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Jose Pineda de Gyvez
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition

Cena
€ 120,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 8. - 22. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Jose Pineda de Gyvez izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).

167 pages, 48 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1992. gada 31. decembris
ISBN13 9780792393061
Izdevēji Springer
Lapas 167
Izmēri 155 × 235 × 12 mm   ·   453 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Jose Pineda de Gyvez