Power-constrained Testing of Vlsi Circuits: a Guide to the Ieee 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing - Nicolici, Nicola (Mcmaster University, Hamilton, Ontario, Canada) - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441953155 - 2010. gada 9. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Nicolici, Nicola (Mcmaster University, Hamilton, Ontario, Canada)
Power-constrained Testing of Vlsi Circuits: a Guide to the Ieee 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 2003 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 29. okt. - . gada 6. nov.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Nicolici, Nicola (Mcmaster University, Hamilton, Ontario, Canada) izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.

178 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2010. gada 9. decembris
ISBN13 9781441953155
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 178
Izmēri 155 × 235 × 10 mm   ·   276 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Nicolici, Nicola (Mcmaster University, Hamilton, Ontario, Canada)