Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - 2010. gada 29. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Cena
€ 232,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 11. - 19. jūn.

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Pieejams arī kā:

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2010. gada 29. oktobris
ISBN13 9781441922090
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 522
Izmēri 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
Valoda Angļu  
Redaktors Wang, Zhong Lin
Redaktors Zhou, Weilie

Mere med samme udgiver

Skatīt visus Weilie Zhou ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )