Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing - Nicola Nicolici - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402072352 - 2003. gada 28. februāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Nicola Nicolici
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing 2003 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 22. - 30. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Nicola Nicolici izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.

178 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2003. gada 28. februāris
ISBN13 9781402072352
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 178
Izmēri 210 × 297 × 12 mm   ·   476 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Nicola Nicolici