Pastāsti draugiem par šo preci:
Applied Measurement with jMetrik Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) 1. izdevums
Cena
€ 268,99
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 23. nov. - . gada 7. dec.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Pieejams arī kā:
Applied Measurement with jMetrik
Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2014. gada 27. jūnijs |
| ISBN13 | 9780415531955 |
| Izdevēji | Taylor & Francis Ltd |
| Lapas | 170 |
| Izmēri | 152 × 229 × 15 mm · 362 g |
| Valoda | Angļu |
