Applied Measurement with jMetrik - Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Grāmatas - Taylor & Francis Ltd - 9780415531979 - 2014. gada 25. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Applied Measurement with jMetrik 1. izdevums

Cena
€ 84,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 21. okt. - . gada 4. nov.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.

55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2014. gada 25. jūnijs
ISBN13 9780415531979
Izdevēji Taylor & Francis Ltd
Lapas 170
Izmēri 229 × 153 × 9 mm   ·   266 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)