High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics - Ullrich Pietsch - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400921 - 2004. gada 27. augusts
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics 2nd ed. 2004 edition

Cena
€ 150,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 7. - 21. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Ullrich Pietsch izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.


428 pages, 389 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2004. gada 27. augusts
ISBN13 9780387400921
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 408
Izmēri 155 × 235 × 23 mm   ·   816 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja