High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics - Ullrich Pietsch - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923073 - 2011. gada 12. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Ullrich Pietsch
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics 2nd ed. 2004. Softcover reprint of the original 2n edition

Cena
€ 90,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 23. - 31. jūl.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Ullrich Pietsch izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.

408 pages, 389 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2011. gada 12. decembris
ISBN13 9781441923073
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 408
Izmēri 155 × 235 × 22 mm   ·   594 g
Valoda Angļu  

Mere med samme udgiver

Skatīt visus Ullrich Pietsch ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )