Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400907 - 2006. gada 28. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Adam Foster
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology And Ed. edition

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Adam Foster izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.

282 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2006. gada 28. jūnijs
ISBN13 9780387400907
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 282
Izmēri 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g

Vairāk no Adam Foster

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Adam Foster ( piem., CD , Paperback Book un Hardcover Book )