Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Springer Series in Materials Science - Stefan Rein - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642064531 - 2010. gada 19. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Springer Series in Materials Science Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

Cena
€ 301,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 3. - 11. nov.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Stefan Rein izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.


492 pages, 29 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2010. gada 19. oktobris
ISBN13 9783642064531
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 492
Izmēri 155 × 235 × 26 mm   ·   721 g
Valoda Angļu  

Vairāk no Stefan Rein

Vairāk no tā paša izdevēja