Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Springer Series in Materials Science - Stefan Rein - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540253037 - 2005. gada 23. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Springer Series in Materials Science 2005 edition

Cena
€ 300,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 19. - 27. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Stefan Rein izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.


492 pages, 29 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2005. gada 23. jūnijs
ISBN13 9783540253037
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 492
Izmēri 241 × 166 × 37 mm   ·   950 g
Valoda Angļu   Vācu  

Vairāk no tā paša izdevēja