Bias Temperature Instability for Devices and Circuits - - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493955299 - 2016. gada 1. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition

Cena
€ 108,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 9. - 17. jūl.

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

821 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2016. gada 1. oktobris
ISBN13 9781493955299
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 810
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   1,37 kg
Valoda Angļu  
Redaktors Grasser, Tibor

Mere med samme udgiver