Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies - Alberto Bosio - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489983145 - 2014. gada 3. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Alberto Bosio
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies 2010 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 23. - 31. jūl.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Alberto Bosio izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.

171 pages, 22 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2014. gada 3. septembris
ISBN13 9781489983145
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 171
Izmēri 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
Valoda Angļu  

Mere med samme udgiver

Skatīt visus Alberto Bosio ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )