Physical Measurement and Analysis of Thin Films - Progress in Analytical Chemistry - E M Murt - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489959126 - 2013. gada 7. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Physical Measurement and Analysis of Thin Films - Progress in Analytical Chemistry Softcover reprint of the original 1st ed. 1969 edition

Cena
€ 63,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 27. aug. - . gada 10. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem E M Murt izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

194 pages, 99 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2013. gada 7. decembris
ISBN13 9781489959126
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 194
Izmēri 152 × 229 × 11 mm   ·   285 g
Valoda Angļu  
Redaktors Murt, E. M.

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus E M Murt ( piem., Paperback Book )