CTL for Test Information of Digital ICs - Rohit Kapur - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475778007 - 2013. gada 26. aprīlis
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

CTL for Test Information of Digital ICs Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition

Cena
€ 120,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 12. - 26. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Rohit Kapur izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

From the reviews: "[...] a welcome addition to the literature. [...] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability


173 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2013. gada 26. aprīlis
ISBN13 9781475778007
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 173
Izmēri 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja