CTL for Test Information of Digital ICs - Rohit Kapur - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402072932 - 2002. gada 31. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

CTL for Test Information of Digital ICs 2002 edition

Cena
€ 118,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 26. aug. - . gada 9. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Rohit Kapur izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

From the reviews: "[...] a welcome addition to the literature. [...] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability


173 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2002. gada 31. oktobris
ISBN13 9781402072932
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 173
Izmēri 155 × 235 × 12 mm   ·   439 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja