Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 2012. gada 30. janvāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Cena
€ 53,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 11. - 19. jūn.
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 30. janvāris
ISBN13 9781461588818
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 491
Izmēri 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Valoda Angļu  
Redaktors Meyer, Otto

Vairāk no Otto Meyer

Rādīt visu

Mere med samme udgiver

Vairāk no šīs sērijas