Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses - Weronika Walkosz - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461428572 - 2013. gada 28. maijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses 2011 edition

Cena
€ 118,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 21. aug. - . gada 4. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Weronika Walkosz izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.


176 pages, 2 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2013. gada 28. maijs
ISBN13 9781461428572
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 110
Izmēri 155 × 235 × 6 mm   ·   185 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja