Weronika Walkosz
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses Weronika Walkosz 2011 edition

Name: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses
Price: 119.49 EUR
Availability: OutOfStock
Author: Weronika Walkosz

Cena

€ 119,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 28. aug. - . gada 11. sept.

Saņemiet paziņojumus par jauniem Weronika Walkosz izdevumiem

Mūsu klienti saka:

Top-vurdering på Google Reviews, baseret på tusinder af anmeldelser.

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu

Top vieta Trustpilot

Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Paperback Book

2011 edition

(2013) € 119,49

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses

Weronika Walkosz

2011 edition

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

176 pages, 2 black & white tables, biography

Mediji	Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists	2011. gada 19. aprīlis
ISBN13	9781441978165
Izdevēji	Springer-Verlag New York Inc.
Lapas	110
Izmēri	162 × 241 × 12 mm · 317 g
Valoda	Angļu