Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461377986 - 2012. gada 4. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 17. - 25. jūn.

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 4. oktobris
ISBN13 9781461377986
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 167
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   369 g
Valoda Angļu  
Redaktors Zorian, Yervant

Mere med samme udgiver