Testing and Reliable Design of CMOS Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Niraj K. Jha - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461288183 - 2011. gada 26. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Niraj K. Jha
Testing and Reliable Design of CMOS Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

Cena
€ 178,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 2. - 16. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Niraj K. Jha izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

In the last few years CMOS technology has become increas ingly dominant for realizing Very Large Scale Integrated (VLSI) circuits. However, the rapid advance ments in this area pose many new problems in the area of testing. Today many universities offer courses in the areas of digital system testing and fault-tolerant computing.

246 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2011. gada 26. septembris
ISBN13 9781461288183
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 232
Izmēri 155 × 235 × 13 mm   ·   353 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Niraj K. Jha ( piem., Paperback Book )