High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 2012. gada 31. janvāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Cena
€ 100,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 17. - 25. jūn.
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Pieejams arī kā:

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2012. gada 31. janvāris
Oriģinālā izdošanas datums 2011
ISBN13 9781441999757
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 193
Izmēri 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Valoda Angļu  

Mere med samme udgiver