CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing - Andrei Pavlov - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402083624 - 2008. gada 21. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Andrei Pavlov
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing 2008 edition

Cena
€ 189,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 19. aug. - . gada 2. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Andrei Pavlov izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

210 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2008. gada 21. jūnijs
ISBN13 9781402083624
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 194
Izmēri 166 × 239 × 19 mm   ·   476 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Andrei Pavlov ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )