CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing - Andrei Pavlov - Grāmatas - Springer - 9789048178551 - 2010. gada 28. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Cena
€ 191,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 11. - 25. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Andrei Pavlov izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.


210 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2010. gada 28. oktobris
ISBN13 9789048178551
Izdevēji Springer
Lapas 194
Izmēri 155 × 235 × 11 mm   ·   303 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja