Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II - - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402043659 - 2006. gada 27. janvāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II 2006 edition

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-K Dielectric Nano-Electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, from 11 to 14 July 2005.

492 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2006. gada 27. janvāris
ISBN13 9781402043659
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 492
Izmēri 210 × 297 × 28 mm   ·   1,57 kg
Valoda Angļu  
Redaktors Gusev, Evgeni

Vairāk no tā paša izdevēja