Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing - Leendert M. Huisman - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387249933 - 2005. gada 21. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Leendert M. Huisman
Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

Cena
€ 120,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 14. - 28. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Leendert M. Huisman izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

250 pages, 46 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2005. gada 21. jūnijs
ISBN13 9780387249933
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 250
Izmēri 155 × 235 × 15 mm   ·   576 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Leendert M. Huisman ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )