Jesus Javier Ortega Cabrera

Evaluacion teorica de la reflectancia en capas delgadas de AL/SiO2 Jesus Javier Ortega Cabrera

La mejora de las propiedades ópticas de un material, tales como la reflectancia, implica la compleja búsqueda de los parámetros experimentales óptimos en su proceso de obtención. La utilización de un software computacional para la simulación de estos procesos de crecimiento de capas delgadas representa un beneficio sustancial debido a la no dependencia de un sistema real, así como la posibilidad de explorar un mayor rango de magnitudes físicas involucradas. Además, existiendo la necesidad en la industria automotriz, Varroc Lighting Systems(c) se ha dado a la tarea de mejorar la reflectancia del aluminizado en sus faros, por ello llevamos a cabo el desarrollo, mediante el software NASCAM(R), el cual utiliza el método cinético de Monte Carlo para desarrollar un modelo del sistema físico a estudiar en una escala nanométrica, este nos permitirá analizar la influencia de las diferentes magnitudes que pueden afectar la reflectancia del material.