Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM - Nobuo Tanaka - Grāmatas - Springer Verlag, Japan - 9784431568049 - 2018. gada 25. jūlijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Nobuo Tanaka
Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM Softcover reprint of the original 1st ed. 2017 edition

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Nobuo Tanaka izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook.

333 pages, 10 Tables, color; 22 Illustrations, color; 107 Illustrations, black and white; XXVIII, 33

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2018. gada 25. jūlijs
ISBN13 9784431568049
Izdevēji Springer Verlag, Japan
Lapas 333
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   618 g

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Nobuo Tanaka