Electron Nano-imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM - Nobuo Tanaka - Grāmatas - Springer Verlag, Japan - 9784431569398 - 2024. gada 3. augusts
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Electron Nano-imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM Second Edition 2024 edition

Cena
€ 100,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 24. sept. - . gada 2. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Nobuo Tanaka izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

In this second edition, most chapters of the first edition, which published in 2017, have been revised and recent advancement of electron microscopy such as differential phase contrast (DPC) STEM, sparse-coding image processing and quantum electron microscopy have been supplemented with further details.

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2024. gada 3. augusts
ISBN13 9784431569398
Izdevēji Springer Verlag, Japan
Lapas 384
Izmēri 150 × 220 × 20 mm   ·   839 g

Vairāk no tā paša izdevēja