Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM - Nobuo Tanaka - Grāmatas - Springer Verlag, Japan - 9784431565000 - 2017. gada 10. aprīlis
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Nobuo Tanaka
Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM 1st ed. 2017 edition

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Nobuo Tanaka izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook.

333 pages, 107 black & white illustrations, 22 colour illustrations, 10 colour tables, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2017. gada 10. aprīlis
ISBN13 9784431565000
Izdevēji Springer Verlag, Japan
Lapas 333
Izmēri 241 × 162 × 27 mm   ·   825 g

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Nobuo Tanaka