Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Grāmatas - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - 2012. gada 1. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

Cena
€ 301,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 24. jūn. - . gada 2. jūl.
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Pieejams arī kā:

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.


554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 1. novembris
ISBN13 9783709172049
Izdevēji Springer Verlag GmbH
Lapas 554
Izmēri 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
Valoda Angļu  

Mere med samme udgiver