Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science - Johann-Martin Spaeth - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642627224 - 2012. gada 14. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition

Cena
€ 202,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 10. - 18. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Johann-Martin Spaeth izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The precedent book with the title "Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy" ap peared about 10 years ago.


492 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 14. septembris
ISBN13 9783642627224
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 492
Izmēri 155 × 235 × 25 mm   ·   703 g
Valoda Angļu  
Ieguldītājs Hans-Joachim Queisser

Vairāk no Johann-Martin Spaeth

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja