Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science - Johann-Martin Spaeth - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540426950 - 2003. gada 22. janvāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science 2003 edition

Cena
€ 202,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 23. sept. - . gada 1. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Johann-Martin Spaeth izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The precedent book with the title "Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy" ap peared about 10 years ago.


492 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2003. gada 22. janvāris
ISBN13 9783540426950
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 492
Izmēri 155 × 235 × 28 mm   ·   884 g
Valoda Angļu   Vācu  
Ieguldītājs Hans-Joachim Queisser

Vairāk no tā paša izdevēja