Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces - NanoScience and Technology - Gerd Kaupp - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642066634 - 2010. gada 12. februāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces - NanoScience and Technology 1st ed. Softcover of orig. ed. 2006 edition

Cena
€ 194,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 28. aug. - . gada 4. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Gerd Kaupp izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm.


308 pages, 7 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2010. gada 12. februāris
ISBN13 9783642066634
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 292
Izmēri 156 × 233 × 20 mm   ·   466 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja